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比長儀
更新時(shí)間：2025-09-09
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
比長儀是以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長度，主要用于測(cè)量線紋距離的精密長度測(cè)量工具。
產(chǎn)品介紹
比長儀是以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長度，主要用于測(cè)量線紋距離的精密長度測(cè)量工具。
比長儀一般采用測(cè)量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件，并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，與被測(cè)長度比較而確定量值。比長儀主要用于檢定線紋尺，測(cè)量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離，也可用于測(cè)量孔徑。
分類
按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類?？v向比長儀采用線紋尺作為已知長度，且結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合阿貝原則，稱為阿貝比長儀。測(cè)量時(shí),先用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái)，再用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測(cè)線條，從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個(gè)數(shù)值之差即是被測(cè)兩線條間距離。
橫向比長儀的被測(cè)長度和已知長度是并列布置的，這種布局可以縮短導(dǎo)軌長度，但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者，稱為光電比長儀；采用激光或其他單色光波長作為已知長度者，分別稱為激光比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測(cè)量精確度為±1～±1.5微米/200毫米，光電比長儀可達(dá)到±0.5微米/1000毫米，而光電光波比長儀和激光比長儀則可達(dá)到±0.2微米/1000毫米。
結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
比長儀是由刻度盤1、千分表2、上測(cè)頭3、90°V型槽支架4、下測(cè)頭5、標(biāo)準(zhǔn)桿6、底座等組成。它具有使用方便、測(cè)量精度高、速度快、讀數(shù)清楚等優(yōu)點(diǎn)。為了滿足用戶的使用要求，支架采用V型槽式，上下測(cè)頭采用平面測(cè)頭，這種方法提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確性，可供廣大用戶試驗(yàn)檢測(cè)用。
操作規(guī)程
1、 將比長儀放在工作臺(tái)上，將標(biāo)準(zhǔn)桿放入比長儀上下測(cè)頭球面孔內(nèi)，松開上測(cè)頭鎖緊螺母、調(diào)整上測(cè)頭與百分表使刻度盤上“0"位于百分表指針對(duì)齊后，將上測(cè)頭鎖緊螺母擰緊。
2、 將被測(cè)試體擦凈，一端釘頭放入比長儀下測(cè)頭球面孔內(nèi)，另一端釘頭輕輕放入比長儀上測(cè)頭的球面孔內(nèi)。
3、 左右旋轉(zhuǎn)被測(cè)體，使試體與比長儀下測(cè)頭良好接觸。檢查比長儀上下測(cè)頭球面孔內(nèi)是否有砂粒等臟物。
4、 測(cè)量試體讀數(shù)時(shí)，首先讀表盤內(nèi)小表針?biāo)甘镜臄?shù)值，然后再讀大表針?biāo)甘镜臄?shù)值。
5、 比長儀是一種精密的測(cè)量儀器，在使用過程中一定要輕拿輕放，保持整潔。
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